磁場測試儀
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產品名稱: 磁場測試儀
產品型號: FT3470-50
產品展商: 日本日置
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
FT3470-50磁場測試儀的特點是符合2010年國際非電離輻射防護委員會的準則,測量出具體的暴露等級。用戶可以根據自己的需要選擇兩個規格的傳感器。簡單的操作確保了即使是**次使用的人也可以自主操作,此儀器可用于測試不同規格,并且能夠顯示多級機組(T,A / M和G)。
磁場測試儀
的詳細介紹
日置*新發售FT3470-50磁場測試儀,適用于測量電力設備和家用電器放射出的磁場強度等領域。
日置的磁場測試儀自2006年4月推廣以來,已經贏得了一大批忠實的客戶。在2010年國際非電離輻射防護委員會宣布的磁場測量準則后,在原有產品的基礎上研發了FT3470-50磁場測試儀,以應對*新國際標準的變化。
FT3470-50磁場測試儀的特點是符合2010年國際非電離輻射防護委員會的準則,測量出具體的暴露等級。用戶可以根據自己的需要選擇兩個規格的傳感器。簡單的操作確保了即使是**次使用的人也可以自主操作,此儀器可用于測試不同規格,并且能夠顯示多級機組(T,A / M和G)。 |
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磁場現場測量 |
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近年來,專家們呼吁關注電氣設備和家用電器產生的磁場對健康的潛在影響,要求按照國際非電離輻射防護委員會和國際電工委員會草擬的標準測量磁場。國際非電離輻射防護委員會推出的*新標準,為避免對人體健康產生**影響的角度來看,提供以下*大磁場強度參考值: |
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國際非電離輻射防護委員會2010年參考值 |
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2010 年修訂版 |
1998 年版本 |
電源頻率(50/60 Hz) |
200 mT (microteslas) |
50 Hz: 100 mT60 Hz: 88.3 mT |
中頻(感應加熱元件等) |
27 mT |
6.25 mT |
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日置*早于2006年4月推出3470磁場測試儀,在2010年宣布推出的FT3470-50磁場測試儀符合國際非電離輻射防護委員會2010年新標準。 |
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**性能 |
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- 暴露等級測量與2010年國際非電離輻射防護委員會規則一致。
日置磁場測試儀測量暴露等級,是以百分比表示的,符合國際非電離輻射防護委員會參考值的儀器。FT3470-50串聯探測儀符合2010年國際非電離輻射防護委員會更新的數據。
例如:如果根據測量物體發出了20μT磁場,(電源頻率磁場),那暴露等級則為10%,而2010年的*新參考值為200μT。
- 不同型號傳感器的不同應用
日置提供了兩個不同型號的磁場傳感器。如下所述,客戶可以選擇*適合自己手頭運用的型號:
100 cm2的磁場傳感器: 標準傳感器使用的IEC / EN62233標準;標準船舶是FT3470-51 和FT3470-52標準。
3 cm2的磁場傳感器: 傳感器能夠**的分析測量目標的磁場分布;船舶是FT3470-52和 FT3470-55標準。
日置的三軸傳感器具有X,Y,Z軸標簽,它更加方便確定目標磁場的方向。
- 測量使用多級機組FT3470-50串聯,可以測量以下三個單位。根據不同的標準和規則,允許用于磁場測量方案。
- T(特斯拉):磁通量的轉換單位
- A/m(每米的安匝)磁場強度的轉換單位
- G(高斯):磁通量密度單位
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組要規格 |
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產品分檔
磁通密度 |
10 Hz ~ 400 kHz / 10 Hz ~ 2 kHz / 2 kHz ~ 400 kHz(波段) |
暴露等級 |
一般/專業 |
顯示軸線 |
X/Y/Z單軸,復合真有效值R(整體軸:X/Y/Z) |
測量方法 |
真有效值 |
功能 |
磁通量單元轉換(T, A/m, G),減緩作用,峰值保持,記憶函數(*大值99個點),設定值備份,電池檢查 |
接口 |
USB 1.1 |
尺寸 |
100 (寬) ´ 150 (高) ´ 42 (厚) (mm) |
重量 |
870 g (僅儀器) |
參照標準 |
安規: EN 61010 (污染程度 2)
EMC: EN 61326, EN 61000-3-2, EN 61000-3-3 |
參考標準 |
JIS C1910:2004 |
磁通量詳細說明(用100 cm2個磁場傳感器)
測量軸 |
范圍 |
測量方式 |
有效測量范圍 |
**度 |
X, Y, Z |
r0 |
10 Hz ~ 400 kHz
10 Hz ~ 2 kHz
2 kHz ~ 400 kHz |
0.050 ~ 2.000 μT |
±3.5% rdg.
±0.5% f.s. (in 10 Hz ~ 400 kHz 方式, from 50 Hz ~ 100 Hz) |
r1 |
0.50 ~ 20.00 μT |
r2 |
5.0 ~ 200.0 μT |
r3 |
0.050 ~ 2.000 mT |
R |
r0 |
10 Hz ~ 400 kHz
10 Hz ~ 2 kHz
2 kHz ~ 400 kHz |
0.100 ~ 3.464 μT |
±3.5% rdg.
±0.5% f.s. (in 10 Hz ~ 400 kHz 方式, from 50 Hz ~ 100 kHz) |
r1 |
1.00 ~ 34.64 μT |
r2 |
10.0 ~ 346.4 μT |
r3 |
0.100 ~ 3.464 mT |
暴露等級(一般,專業詳細規格)
測量軸 |
范圍 |
有效測量范圍 |
**度 |
X, Y, Z |
r0 |
0.50% ~ 20.00% |
±3.5% rdg. ±0.5% f.s. for 50 Hz ~ 1 kHz 平滑邊緣
±5.0% rdg. ±0.5% f.s. for 1 kHz ~ 100 kHz 平滑邊緣 |
r1 |
5.0% ~ 200.0% |
R |
r0 |
1.00% ~ 34.64% |
r1 |
10.0% ~ 346.4% |
被定義為“平滑邊緣”暴露等級探測技術,適用于時域評估的IEC / EN62233中描述2010年的ICNIRP發布的磁通密度。這個水平可能會有所不同,從2010年的ICNIRP角頻率高達3分貝。 |
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