SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進行全4端口S參數(shù)測試，并且具備多種顯示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗證天線，濾波器等的特性時，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進行通過失敗測試，有利于提高生產(chǎn)效率。

SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時，可將輸入輸出端口進行阻抗變換，從而進行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。

SNA5000X系列支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時延等參數(shù)進行分析。

SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進而估計系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心，為需要對高速信號進行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。

校準是VNA進行可靠測量前必須進行的步驟。鼎陽科技目前可提供8種SOLT機械校準件，分為經(jīng)濟級校準件和精密級校準件。校準頻率范圍涵蓋DC~9 GHz，接口類型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列還可支持其他廠家的校準件及客戶自定義校準件的導(dǎo)入，從而保護客戶對校準件的投資。